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矿物学制样平台

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目标定位:

矿物学制样平台拥有超薄切片机、离子减薄仪、多功能修块机和等离子清洗仪等设备,可开展矿物学微区研究的样品前处理、制备及清洗等工作。

主要设备及功能

超薄切片机(Leica EM UC7),主要制备厚度极薄(< 100 nm)的透射电子显微镜(TEM)样品;

离子减薄仪(695 PIPS IITM),可针对矿物、岩石、陶瓷、半导体、金属、合金等多种样品,制备TEM样品;

多功能修块机(Leica EM TXP),可对样品进行精确的锯、铣、磨、抛光等工作,完成SEM、TEM等样品的制备;

等离子清洗仪(Model 1020),主要用于TEM样品表面吸附碳等污染物的清洗工作。

附件: